一、相關概念：
       1、粒度與粒徑：顆(ke)粒的大(da)小(xiao)稱(cheng)為(wei)(wei)粒度，一般(ban)顆(ke)粒的大(da)小(xiao)又(you)以(yi)直徑表示,故(gu)也稱(cheng)為(wei)(wei)粒徑。
       2、粒(li)度(du)分(fen)(fen)(fen)(fen)布(bu)(bu)：用(yong)一(yi)定方法(fa)反映出一(yi)系列不同粒(li)徑區(qu)間顆(ke)粒(li)分(fen)(fen)(fen)(fen)別占試樣總量的(de)百分(fen)(fen)(fen)(fen)比稱為(wei)粒(li)度(du)分(fen)(fen)(fen)(fen)布(bu)(bu)。
       3、等(deng)(deng)(deng)(deng)效(xiao)(xiao)(xiao)粒(li)(li)徑(jing)(jing)：由于實(shi)際顆(ke)粒(li)(li)的(de)(de)(de)形狀通常(chang)為(wei)非球形的(de)(de)(de)，難以直接用直徑(jing)(jing)表示其(qi)大(da)小，因此(ci)在顆(ke)粒(li)(li)粒(li)(li)度測(ce)試(shi)領域(yu)，對(dui)非球形顆(ke)粒(li)(li)，通常(chang)以等(deng)(deng)(deng)(deng)效(xiao)(xiao)(xiao)粒(li)(li)徑(jing)(jing)（一(yi)般(ban)簡稱粒(li)(li)徑(jing)(jing)）來表征顆(ke)粒(li)(li)的(de)(de)(de)粒(li)(li)徑(jing)(jing)。等(deng)(deng)(deng)(deng)效(xiao)(xiao)(xiao)粒(li)(li)徑(jing)(jing)是(shi)指當一(yi)個(ge)顆(ke)粒(li)(li)的(de)(de)(de)某一(yi)物理特性與(yu)同質球形顆(ke)粒(li)(li)相(xiang)同或相(xiang)近(jin)時，就用該(gai)球形顆(ke)粒(li)(li)的(de)(de)(de)直徑(jing)(jing)代表這個(ge)實(shi)際顆(ke)粒(li)(li)的(de)(de)(de)直徑(jing)(jing)。其(qi)中，根(gen)據不(bu)(bu)同的(de)(de)(de)原理，等(deng)(deng)(deng)(deng)效(xiao)(xiao)(xiao)粒(li)(li)徑(jing)(jing)又(you)分(fen)為(wei)以下幾類：等(deng)(deng)(deng)(deng)效(xiao)(xiao)(xiao)體積徑(jing)(jing)、等(deng)(deng)(deng)(deng)效(xiao)(xiao)(xiao)篩分(fen)徑(jing)(jing)、等(deng)(deng)(deng)(deng)效(xiao)(xiao)(xiao)沉(chen)速(su)徑(jing)(jing)、等(deng)(deng)(deng)(deng)效(xiao)(xiao)(xiao)投影面積徑(jing)(jing)。需注意的(de)(de)(de)是(shi)基于不(bu)(bu)同物理原理的(de)(de)(de)各種(zhong)(zhong)測(ce)試(shi)方(fang)法，對(dui)等(deng)(deng)(deng)(deng)效(xiao)(xiao)(xiao)粒(li)(li)徑(jing)(jing)的(de)(de)(de)定義不(bu)(bu)同，因此(ci)各種(zhong)(zhong)測(ce)試(shi)方(fang)法得到的(de)(de)(de)測(ce)量結果之(zhi)間無直接的(de)(de)(de)對(dui)比性。
       4、顆(ke)粒(li)大小分級習慣術語：納米(mi)顆(ke)粒(li)（1-100 nm），亞微(wei)米(mi)顆(ke)粒(li)（0.1-1 μm），微(wei)粒(li)、（1-100 μm），細粒(li)(li)、細粉（100-1000 μm），粗粒(li)(li)（大(da)于(yu)1 mm）。
       5、平均(jun)徑(jing)：表示顆粒(li)平均(jun)大(da)小的(de)數(shu)據。根據不同的(de)儀(yi)器所測量(liang)的(de)粒(li)度分布，平均(jun)粒(li)徑(jing)分、體積平均(jun)徑(jing)、面積平均(jun)徑(jing)、長度平均(jun)徑(jing)、數(shu)量(liang)平均(jun)徑(jing)等。
       6、D50：也(ye)叫中(zhong)位徑或中(zhong)值(zhi)(zhi)粒(li)(li)徑，這是一個表(biao)示粒(li)(li)度大(da)小(xiao)(xiao)的典型值(zhi)(zhi)，該(gai)值(zhi)(zhi)準確地將總體劃分為(wei)二等份(fen)，也(ye)就是說有50%的顆粒(li)(li)超過此值(zhi)(zhi)，有50%的顆粒(li)(li)低于此值(zhi)(zhi)。如果一個樣品(pin)的D50=5 μm，說明在(zai)組成該(gai)樣品(pin)的所(suo)有粒(li)(li)徑的顆粒(li)(li)中(zhong)，大(da)于5 μm的顆粒(li)(li)占(zhan)(zhan)50％，小(xiao)(xiao)于5 μm的顆粒(li)(li)也(ye)占(zhan)(zhan)50％。
       7、最(zui)頻粒徑：是頻率分布(bu)曲線(xian)的最(zui)高點(dian)對應的粒徑值。
       8、D97：D97指一(yi)(yi)個(ge)樣(yang)品的累(lei)計粒(li)度分布(bu)數(shu)達(da)到(dao)97%時所對應的粒(li)徑。它(ta)的物(wu)理意義是粒(li)徑小于它(ta)的的顆粒(li)占97%。這是一(yi)(yi)個(ge)被廣泛(fan)應用的表示(shi)粉體粗端粒(li)度指標的數(shu)據。

       二、粒度測試的基本方法及其分析
       激光法
       激(ji)光法(fa)(fa)是通過(guo)一(yi)臺激(ji)光散射的方法(fa)(fa)來測量(liang)懸浮液(ye)，乳液(ye)和粉末樣品顆粒分布的多用途(tu)儀器。納米型和微米型激(ji)光料度儀還可以(yi)通過(guo)安裝的軟(ruan)件(jian)來分析顆粒的形狀。現(xian)在(zai)已經成為顆粒測試(shi)的主流。
       1、優點：（1）適用(yong)性(xing)廣(guang)，既(ji)可(ke)測粉(fen)末狀的顆粒(li)(li)，也(ye)可(ke)測懸浮液(ye)和乳濁(zhuo)液(ye)中(zhong)的顆粒(li)(li)；（2）測試(shi)范(fan)圍(wei)寬，國際標準(zhun)(zhun)ISO 13320 - 1 Particle Size Analysis 2 Laser Diffraction Meth 2 ods 2 Part 1: General Principles中(zhong)規定激光衍射散射法的應用(yong)范(fan)圍(wei)為(wei)0.1～3000 μm；（3）準(zhun)(zhun)確性(xing)高，重復(fu)性(xing)好；（4）測試(shi)速度快；（5）可(ke)進行在線測量。
       2、缺點：不(bu)宜(yi)測量粒度分布很(hen)窄的(de)樣品(pin)，分辨率相(xiang)對較低(di)。

       激光散射技術分類：
       1、靜態(tai)光散射法（即時間平均(jun)散射）：測(ce)量散射光的空(kong)間分布(bu)規(gui)律采(cai)用(yong)米(mi)(mi)氏理論(lun)。測(ce)試的有(you)效下限只能達到50納(na)米(mi)(mi)，對于更小的顆(ke)粒(li)則無(wu)能為(wei)力(li)。納(na)米(mi)(mi)顆(ke)粒(li)測(ce)試必須采(cai)用(yong)“動態(tai)光散射”技術。
       2、動(dong)態光(guang)(guang)(guang)散(san)(san)射(she)法：研(yan)究散(san)(san)射(she)光(guang)(guang)(guang)在某固(gu)定空間位(wei)置(zhi)的強度隨度時間變化(hua)的規(gui)律。原理基于ISO 13321分析(xi)顆(ke)粒(li)(li)粒(li)(li)度標準方法，即利用運動(dong)著的顆(ke)粒(li)(li)所產生的動(dong)態的散(san)(san)射(she)光(guang)(guang)(guang)，通過光(guang)(guang)(guang)子相關光(guang)(guang)(guang)譜(pu)分析(xi)法分析(xi)PCS顆(ke)粒(li)(li)粒(li)(li)徑。
       按儀(yi)器(qi)接受的(de)散(san)射(she)信(xin)號可以分為衍射(she)法(fa)、角散(san)射(she)法(fa)、全散(san)射(she)法(fa)、光(guang)子相(xiang)關光(guang)譜(pu)法(fa)，光(guang)子交叉(cha)相(xiang)關光(guang)譜(pu)法(fa)（PCCS）等。其中(zhong)以激(ji)(ji)光(guang)為光(guang)源的(de)激(ji)(ji)光(guang)衍射(she)散(san)射(she)式(shi)粒(li)度(du)儀(yi)（習慣上簡(jian)稱此類儀(yi)器(qi)為激(ji)(ji)光(guang)粒(li)度(du)儀(yi)）發展最為成熟，在顆粒(li)測量技術中(zhong)已經得到了普遍的(de)采用。

       激光粒度分析儀：

圖1：激光粒度儀裝置框圖

       沉降法
       沉(chen)(chen)(chen)降法(fa)又分(fen)為：如沉(chen)(chen)(chen)降天平、光(guang)透沉(chen)(chen)(chen)降、離(li)心沉(chen)(chen)(chen)降等。比(bi)重計法(fa)(也(ye)稱密度(du)計法(fa)) ：是沉(chen)(chen)(chen)降分(fen)析法(fa)的(de)一種，另外還有移液管(guan)法(fa)(也(ye)稱吸(xi)管(guan)法(fa))。該(gai)兩法(fa)的(de)理(li)論基礎都是依(yi)據(ju)Stokes(斯托克斯)定律，即球狀的(de)細顆粒(li)在水中的(de)下沉(chen)(chen)(chen)速(su)度(du)與顆粒(li)直徑的(de)平方成正比(bi)。
       ;遵(zun)循(xun)Stokes定律(lv)：
       根據(ju)不(bu)同(tong)(tong)粒(li)(li)(li)徑的顆(ke)粒(li)(li)(li)在液體(ti)中(zhong)的沉(chen)(chen)(chen)降速度(du)不(bu)同(tong)(tong)測(ce)量(liang)粒(li)(li)(li)度(du)分布的一種(zhong)方法。它的基本過程(cheng)是把(ba)樣(yang)品放到某種(zhong)液體(ti)中(zhong)制成一定濃度(du)的懸(xuan)浮液，懸(xuan)浮液中(zhong)的顆(ke)粒(li)(li)(li)在重力或離心力作(zuo)用下(xia)將發生沉(chen)(chen)(chen)降。大(da)顆(ke)粒(li)(li)(li)的沉(chen)(chen)(chen)降速度(du)較快，小顆(ke)粒(li)(li)(li)的沉(chen)(chen)(chen)降速度(du)較慢(man)。斯(si)托克斯(si)Stokes定律是沉(chen)(chen)(chen)降法粒(li)(li)(li)度(du)測(ce)試的基本理論(lun)依據(ju)。

圖2：沉降法原理示意圖

       1、優(you)點：該(gai)法(fa)在涂料和(he)陶瓷(ci)等工(gong)業中(zhong)是一種傳統(tong)的粉體粒徑測試方(fang)法(fa)。
       2、缺(que)點：測量(liang)速度(du)慢，不能處理不同密度(du)的混(hun)合(he)物。結果受環境(jing)因素（比(bi)如溫度(du)）和人(ren)為(wei)因素影響(xiang)較大。

       篩分法
       篩(shai)(shai)分法就(jiu)是(shi)用一套標準篩(shai)(shai)子(zi)(zi)如孔直徑(jing)(mm)：20、10、5.0、2.0、l.0、0.5、0.25、0.1、0.075，按照(zhao)被(bei)測試樣的(de)(de)(de)粒(li)徑(jing)大小及(ji)分布范圍，將大小不同篩(shai)(shai)孔的(de)(de)(de)篩(shai)(shai)子(zi)(zi)疊放(fang)在(zai)一起進(jin)行篩(shai)(shai)分，收集各(ge)個篩(shai)(shai)子(zi)(zi)的(de)(de)(de)篩(shai)(shai)余量，稱量求得被(bei)測試樣以重(zhong)(zhong)量計的(de)(de)(de)顆粒(li)粒(li)徑(jing)分布。將烘干且分散(san)了的(de)(de)(de)200 g有(you)代表性的(de)(de)(de)試樣倒入標準篩(shai)(shai)內搖振，然后(hou)分別稱出留在(zai)各(ge)篩(shai)(shai)子(zi)(zi)上的(de)(de)(de)土重(zhong)(zhong)，并計算出各(ge)粒(li)組(zu)的(de)(de)(de)相(xiang)對含量，即得土的(de)(de)(de)顆粒(li)級配。
       1、優點 ：成本低，使用容易。
       2、缺點 ：對小(xiao)(xiao)于400 目(mu)（38 μm）的(de)(de)干粉(fen)很難(nan)測(ce)(ce)(ce)量(liang)。測(ce)(ce)(ce)量(liang)時(shi)間(jian)越長，得(de)到的(de)(de)結果就越小(xiao)(xiao)。不能測(ce)(ce)(ce)量(liang)射流(liu)或乳(ru)濁(zhuo)液；在測(ce)(ce)(ce)量(liang)針狀(zhuang)樣(yang)品時(shi)這會得(de)到一些奇怪(guai)的(de)(de)結果。難(nan)以給出(chu)詳細的(de)(de)粒(li)度分(fen)布；操(cao)作復雜，結果受人為(wei)因素影響較大；所謂某(mou)某(mou)粉(fen)體(ti)多少目(mu)，是(shi)指用(yong)該目(mu)數(shu)的(de)(de)篩篩分(fen)后的(de)(de)篩余量(liang)小(xiao)(xiao)于某(mou)給定(ding)值。如果不指明篩余量(liang)，“目(mu)”的(de)(de)含義是(shi)模糊的(de)(de)，給溝通帶來不便。

圖3：篩分法原理示意圖

       顯微鏡法
       該法(fa)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)時將試(shi)(shi)(shi)樣涂在玻璃載(zai)片上，采用成(cheng)像(xiang)法(fa)直接觀察(cha)和測(ce)(ce)量(liang)顆(ke)粒(li)(li)的(de)(de)(de)平面(mian)(mian)投影圖像(xiang)，從而測(ce)(ce)得顆(ke)粒(li)(li)的(de)(de)(de)粒(li)(li)徑。能逐個測(ce)(ce)定(ding)(ding)(ding)顆(ke)粒(li)(li)的(de)(de)(de)投影面(mian)(mian)積，以確定(ding)(ding)(ding)顆(ke)粒(li)(li)的(de)(de)(de)粒(li)(li)度，測(ce)(ce)定(ding)(ding)(ding)范圍為(wei)150～0.4 μm，電子顯(xian)微鏡的(de)(de)(de)測(ce)(ce)定(ding)(ding)(ding)下限粒(li)(li)度可達0.001 μm或更小。顯(xian)微鏡法(fa)屬于成(cheng)像(xiang)法(fa)，運(yun)用不同的(de)(de)(de)當量(liang)表示。故而顯(xian)微鏡法(fa)的(de)(de)(de)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)結果與其(qi)他測(ce)(ce)量(liang)方(fang)(fang)法(fa)之間無(wu)直接的(de)(de)(de)對(dui)比性。是(shi)一種最基本也是(shi)最實際的(de)(de)(de)測(ce)(ce)量(liang)方(fang)(fang)法(fa)，常(chang)被用來(lai)作為(wei)對(dui)其(qi)他測(ce)(ce)量(liang)方(fang)(fang)法(fa)的(de)(de)(de)校驗(yan)和標定(ding)(ding)(ding)。但(dan)這類(lei)儀器價格昂貴，試(shi)(shi)(shi)樣制備繁瑣，測(ce)(ce)量(liang)時間長，若僅(jin)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)顆(ke)粒(li)(li)的(de)(de)(de)粒(li)(li)徑，一般(ban)不采用此方(fang)(fang)法(fa)。但(dan)若既需要(yao)了(le)解顆(ke)粒(li)(li)的(de)(de)(de)大(da)小還需要(yao)了(le)解顆(ke)粒(li)(li)的(de)(de)(de)形狀、結構狀況以及表面(mian)(mian)形貌時，該方(fang)(fang)法(fa)則是(shi)最佳的(de)(de)(de)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)方(fang)(fang)法(fa)。
       其中較為常(chang)用的有SEM（掃描電子顯(xian)(xian)微鏡）、TEM（透射(she)電子顯(xian)(xian)微鏡）和AFM（原(yuan)子力顯(xian)(xian)微鏡）。
       例如頂級期刊中常用這些方法進行材料形貌與(yu)微粒大小分(fen)析：
       SEM：

圖4：模板劑聚苯乙烯（PS）球的SEM圖[1]

       TEM:

圖5：硅微球的TEM圖及其直徑分布統計圖[2]

       AFM：

圖6：氧化烯的AFM圖片[3]

       超聲粒度分析
       超(chao)聲(sheng)(sheng)波發生端(duan)（RF Generator）發出一定頻率和(he)強度(du)(du)的(de)超(chao)聲(sheng)(sheng)波，經(jing)過(guo)測試區(qu)域，到(dao)達信號接(jie)收端(duan)（RF Detector）。當顆粒(li)(li)通過(guo)測試區(qu)域時(shi)(shi)，由于不(bu)同大小的(de)顆粒(li)(li)對聲(sheng)(sheng)波的(de)吸收程(cheng)(cheng)度(du)(du)不(bu)同，在接(jie)收端(duan)上得(de)到(dao)的(de)聲(sheng)(sheng)波的(de)衰(shuai)減(jian)程(cheng)(cheng)度(du)(du)也(ye)就不(bu)一樣，根據顆粒(li)(li)大小同超(chao)聲(sheng)(sheng)波強度(du)(du)衰(shuai)減(jian)之間的(de)關系(xi)(xi)，得(de)到(dao)顆粒(li)(li)的(de)粒(li)(li)度(du)(du)分布，同時(shi)(shi)還可測得(de)體(ti)系(xi)(xi)的(de)固(gu)含(han)量(liang)。

圖7：超聲粒徑分析儀原理示意圖

       X射線粉晶散射法（XRD）
       利(li)用(yong)謝樂(le)公(gong)式進行計算：
       (K為謝樂常數(shu)、D為晶(jing)粒垂(chui)直于(yu)晶(jing)面(mian)方向的(de)平均厚度、B為實測(ce)樣品衍(yan)射(she)峰半高寬度、θ為衍(yan)射(she)角、γ為X射(she)線波長(chang)，一般為0.154056 nm)
       K為謝樂常數，若B為衍(yan)射峰的(de)半高寬(kuan),則K=0.89；若B為衍(yan)射峰的(de)積(ji)分高寬(kuan),則K=1；D為晶(jing)粒垂直于(yu)晶(jing)面(mian)方向(xiang)的(de)平均厚度（nm）；
       B為(wei)實(shi)測樣品衍射峰半高(gao)寬度（必須進(jin)行雙線校正和儀器(qi)因子校正），在計算的(de)過程中(zhong)，需轉化為(wei)弧(hu)度（rad）；
       θ為衍射角，也(ye)換成弧度(du)制（rad）；
       γ為(wei)X射線波長，為(wei)0.154056 nm。
       1、優點(dian)：該方法測(ce)試過程簡單，易行，在晶體(ti)材料(liao)中晶粒估(gu)算上(shang)具有廣泛應(ying)用。
       2、缺點(dian)：該方法測試結果較為(wei)粗糙，且(qie)不適用于非晶(jing)材(cai)料。

       顆粒圖像法
       1、顆粒圖像法有靜態(tai)、動(dong)態(tai)兩種測試方(fang)法。
       2、靜態(tai)方式使用(yong)改裝的顯微(wei)鏡系統(tong)，配合(he)高清(qing)晰攝像機，將顆粒樣品的圖像直觀的反映到(dao)電腦屏幕上，配合(he)相(xiang)關(guan)的計(ji)算(suan)機軟件可進行顆粒大小、形狀、整(zheng)體分布等(deng)屬性的計(ji)算(suan)
       3、動態(tai)方式具(ju)有形貌和(he)粒(li)(li)徑分(fen)布雙重分(fen)析能(neng)力。重建了全新(xin)循環分(fen)散系統和(he)軟件數據處理模(mo)塊，解(jie)決了靜(jing)態(tai)顆(ke)粒(li)(li)圖(tu)像儀的制樣繁瑣、采樣代(dai)表性差、顆(ke)粒(li)(li)粘連(lian)等缺(que)陷

圖8：顆粒圖像儀示意圖

       原理：　從頻閃光(guang)源(yuan)發(fa)出的(de)頻閃光(guang)，經過(guo)光(guang)束(shu)擴束(shu)器，得到(dao)平行的(de)頻閃光(guang)，在(zai)測試區域頻閃光(guang)照射在(zai)分散好的(de)單個顆粒(li)上，經過(guo)擁有專利(li)的(de)光(guang)學成(cheng)像(xiang)系(xi)統，得到(dao)每個顆粒(li)清晰的(de)圖(tu)像(xiang)和(he)全(quan)部樣品的(de)粒(li)度分布(bu).

       庫爾特電阻法
       庫爾(er)特(te)電阻法(fa)在(zai)生物等領(ling)域得到廣范應用已經(jing)成為(wei)磨(mo)料和某些行(xing)業的(de)測(ce)試標準.根據顆粒在(zai)電解液(ye)中(zhong)通過某一小孔(kong)時，不同大小顆粒導致(zhi)孔(kong)口部位電阻的(de)變化(hua)，由此(ci)顆粒的(de)尺寸大小由電阻的(de)變化(hua)加以表征和測(ce)定。可以測(ce)得顆粒數量，因(yin)此(ci)又稱庫爾(er)特(te)計(ji)數器，測(ce)量精度較高，重復性好，但易出現孔(kong)口被(bei)堵(du)現象，通常范圍在(zai)0.5～100 μm之間(jian)。
       電(dian)阻法(fa)儀器都采用負壓虹吸方式(shi),迫(po)使樣品通過(guo)寶(bao)(bao)石微(wei)(wei)孔(kong)。小圓(yuan)(yuan)柱形(xing)(xing)寶(bao)(bao)石微(wei)(wei)孔(kong)內充滿介質形(xing)(xing)成(cheng)恒定(ding)的(de)(de)液態體(ti)電(dian)阻( R0 ) ,當樣品中有(you)一個直徑為(wei)d 圓(yuan)(yuan)球形(xing)(xing)標準粒(li)子通過(guo)寶(bao)(bao)石微(wei)(wei)孔(kong)的(de)(de)瞬間,由于微(wei)(wei)粒(li)的(de)(de)電(dian)阻率大(da)于介質的(de)(de)電(dian)阻,就產生電(dian)阻增量ΔR ,根(gen)據庫(ku)爾特公式(shi)因此(ci)電(dian)阻法(fa)傳感器輸出電(dian)壓脈沖也與微(wei)(wei)粒(li)的(de)(de)體(ti)積(ji)成(cheng)正比。
       1、優點：（1） 分辨率(lv)高：能分辨各顆(ke)粒(li)之間粒(li)徑的(de)細微差別(bie)。分辨率(lv)是現有(you)各種(zhong)粒(li)度儀器中最高的(de)。（2） 測量(liang)(liang)速度快：測一(yi)個(ge)樣品一(yi)般只需(xu)15 Sec左右。（3） 重復性(xing)較(jiao)好：一(yi)次要(yao)測量(liang)(liang)1萬個(ge)左右的(de)顆(ke)粒(li)，代表性(xing)較(jiao)好，測量(liang)(liang)重復性(xing)較(jiao)高。（4） 操(cao)作(zuo)(zuo)簡(jian)便(bian)(bian)：整個(ge)測量(liang)(liang)過程基(ji)本上自動(dong)完成(cheng)，操(cao)作(zuo)(zuo)簡(jian)便(bian)(bian)。
       2、缺點：(1)動態范圍較小(xiao)(xiao)：對(dui)同一(yi)個小(xiao)(xiao)孔(kong)管來(lai)說，能(neng)測量(liang)的(de)最(zui)大和(he)最(zui)小(xiao)(xiao)顆粒(li)之比約為(wei)20：1。(2)容(rong)易發生堵(du)孔(kong)故障。雖然新型的(de)計數器具有自動排堵(du)功(gong)能(neng)，畢竟影響(xiang)了測量(liang)的(de)順暢。 （3）測量(liang)下(xia)限(xian)不夠小(xiao)(xiao)：現實中能(neng)用的(de)小(xiao)(xiao)孔(kong)管最(zui)小(xiao)(xiao)孔(kong)徑為(wei)60 μm左(zuo)右，因而測量(liang)下(xia)限(xian)為(wei)1.2 μm左(zuo)右。 

       三、粒度儀的選擇
       1、測試(shi)(shi)范(fan)(fan)圍(wei)：測試(shi)(shi)范(fan)(fan)圍(wei)是指(zhi)粒(li)度儀(yi)的(de)測試(shi)(shi)上限(xian)和(he)下限(xian)之間所包含的(de)區(qu)域實際樣品的(de)粒(li)度范(fan)(fan)圍(wei)最好在儀(yi)器(qi)測量范(fan)(fan)圍(wei)的(de)中段。測試(shi)(shi)范(fan)(fan)圍(wei)要留有一(yi)定的(de)余(yu)量。
       2、重(zhong)(zhong)復(fu)性：重(zhong)(zhong)復(fu)性是(shi)(shi)儀器(qi)好壞的(de)(de)主要指標。通過實(shi)際測量的(de)(de)方法來檢驗(yan)儀器(qi)的(de)(de)重(zhong)(zhong)復(fu)性是(shi)(shi)最真實(shi)的(de)(de)。比較重(zhong)(zhong)復(fu)性時一般用 D10、D50、D90 三個數值。
       3、用途：由于不同(tong)粒(li)度儀(yi)(yi)的(de)性能各有所長，可(ke)以(yi)根(gen)據(ju)不同(tong)的(de)需要選擇(ze)更適合的(de)儀(yi)(yi)器。比如(ru)測(ce)試(shi)量(liang)多(duo)和(he)(he)樣(yang)品種類多(duo)的(de)就要用激光法(fa)粒(li)度儀(yi)(yi)，測(ce)試(shi)量(liang)少(shao)和(he)(he)樣(yang)品單一的(de)可(ke)以(yi)選擇(ze)沉降法(fa)粒(li)度儀(yi)(yi)，需要了(le)解顆粒(li)形貌和(he)(he)其它特(te)殊指標(biao)的(de)選用圖像儀(yi)(yi)等。
       4、與行業(ye)習慣和主要客(ke)(ke)戶(hu)(hu)保(bao)持一(yi)致：由于粒度(du)測試(shi)的特殊(shu)性，不同(tong)粒度(du)儀的測試(shi)結果(guo)往往會有偏(pian)差。為減少(shao)不必要的麻煩(fan)，應選用與行業(ye)習慣和主要客(ke)(ke)戶(hu)(hu)相(xiang)同(tong)（原理相(xiang)同(tong)甚至型號相(xiang)同(tong)）的粒度(du)儀。

       四、總結
       粒度(du)測(ce)試(shi)是一項(xiang)專業(ye)性和(he)技(ji)術性很強的工(gong)作(zuo)。此項(xiang)工(gong)作(zuo)對(dui)粉體產(chan)品的生產(chan)過(guo)程和(he)產(chan)品質量控制都(dou)具(ju)有(you)重(zhong)要(yao)影響，對(dui)人員、儀器、環境都(dou)有(you)很高(gao)的要(yao)求(qiu)。了解粒度(du)測(ce)試(shi)的基(ji)本知識和(he)基(ji)本方法(fa)，對(dui)作(zuo)好粒度(du)測(ce)試(shi)工(gong)作(zuo)具(ju)有(you)一定的現實(shi)意義。